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冲击试验机
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冲击试验机
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品牌 : 美科环试(MeK)
01 美科MeK T8-2X 冲击与跌落测量分析仪-冲击加速度测量,G值测量,包装跌落加速度,包装缓冲性能测试,瞬态冲击波形记录,碰撞加速度测量分析,**加速度与静应力曲线
品牌: 美科环试(MeK)
类别: 冲击跌落测量仪
型号: T8-2X
规格: 输入通道2~8
概述: T8-2X新一代冲击跌落测量分析系统基于成熟可靠的Standard 3X硬件平台,专用于采集和分析瞬态跌落与冲击事件,能够同时完成8个通道的冲击、跌落和其它类型撞击数据的记录与分析功能。该系统内含美国TI*新高性能双核浮点DSP处理器, 24位A/D、D/A及USB3.0即插即用快速通讯组件,使用国际*流品牌冲击波形分析算法,精确可靠地处理瞬态冲击波形。
单价:
01 美科MeK 冲击试验机,冲击测试系统,垂直冲击试验台,MSKT30 MSKT50 MSKT100 MSKT200 MSKT300 MSKT500 满足GB/T2423,GJB1217等标准
品牌: 美科环试(MeK)
类别: 垂直冲击试验机
型号: MSKT30 MSKT50 MSKT100 MSKT200 MSKT300 MSKT500 MSKT1000
规格: 量程300~600g
概述: 产品在生产,运输,装卸,使用过程中,不可避免的受到冲击,碰撞,跌落,翻倒等各种事件,这些事件均瞬态作用于产品上,使产品在瞬间产生很大的速度,加速度,应变速率等力学特征量,这些事件完全不同于产品在静态载荷下的应力,可能导致产品结构强度和性能稳定性方面发生故障,乃至失效,因此很有必要对冲击作用进行研究,在试验室环境下复现冲击环境,考核产品在冲击环境下的结构强度和性能稳定性。
单价:
01 美科MeK 斜面冲击试验机,包装水平冲击,侧面冲击试验台,MIPT-300 MIPT-500,ASTM D5277,DIN EN ISO 2244,JB/T6868-93 ISO2248
品牌: 美科环试(MeK)
类别: 斜面冲击试验机
型号: MIPT-300 MIPT-500
规格: 负载:300~500KG
概述: 斜面冲击试验是传统包装试验方法中的一种。斜面冲击试验系统由一个带轮子的托盘和倾斜10°钢轨组成。当测试物放置托盘上,它的表面与托盘的运行方向垂直,倾斜托盘的底部与挡板撞击。根据需要的冲击速度,托盘被放置在钢轨上离挡板一定的距离上,然后托盘沿着倾斜10°轨道滑落,撞击在挡板上.
单价:
02 美科MeK 高加速度冲击验机,高速冲击试验机,MHSKT10,MGSAK-30,GB/T2423,GJB1217,GJB360.23,GJB150,GJB548,MIL-STD-202F,IEC
品牌: 美科环试(MeK)
类别: 高加速度冲击试验机
型号: MHSKT10,MGSAK-30
规格: 量程50000G
概述: MHST系列冲击试验机与ST系列相比,有更高的加速度性能,用于手机,计算机部件,光学部件,连接器,缓冲材料等产品脆值的精确测量以及评估产品包装的保护能力,设备完全满足或超过GB,GJB,MIL,IEC,ISTA等工业标准。
单价:
03 美科MeK 冲击碰撞台,碰撞试验机,冲击碰撞试验机 MSKM500,MSKM800,MSKM1000,MSKM1500 ,GB/T2423.4、GB/T2423.6、IEC68-2-29标准
品牌: 美科环试(MeK)
类别: 冲击碰撞试验机
型号: MSKM500,MSKM800,MSKM1000,MSKM1500
规格: 每分钟1~120次
概述: 本产品适用于元器件设备和其他电子电工产品在运输和使用期间可能遭受到的重复冲击,碰撞试验也可以作为确定样品在结构方面满意设计的一种方法,或作为质量控制的手段,碰撞使样品在碰撞试验上经受具有规定的峰值加速度和持续时间的标准脉冲的重复冲击测试.
单价:
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